PLM-100/PEM-340/PEM-400 SANTEC圣德科偏振相關損耗測試儀PLM-100/偏振消光比測試儀PEM-340/偏振消光比測試儀PEM-400

PLM偏振相關損耗計建立在BRM穩定和成熟的技術基礎上，并將其提升到一個新的水平。改進的源隔離、電子、光學和連續激光功率參考增強了性能，以實現最可重復和穩定的測量。

基本模型能夠進行PLM, IL和平均IL測量，分辨率為0.001 dB，的PDL精度高達±(0.005 + 2%的PDL)。

反向反射選項允許從0到-75 dB的BR測量，精度為±0.4 dB。

PLM允許多達4個外部輸入(1260 - 1650 nm)或內部源(1310/1490/1550/1625 nm)和雙輸出選項的組合，以實現的靈活性。可根據要求定制波長。

直觀的觸摸屏顯示簡化了操作。儀表也可以通過遠程接口(以太網或USB)控制，并與我們的免費GMS軟件一起使用，以自動測量。

Santec 的 PEM-340 偏振消光比測試儀(PER) 可以實現快速，精準的光器件偏振軸對準及保偏光纖（PMF）性能評價。除此之外，使用應答時間為1kHz的模擬功率計， 可對應半導體激光及光纖的高速自動對準。

• 全波段1260 to 1630 nm

• 消光比, 光功率及偏振角度的同時顯示

• PER測量的50dB動態范圍

• 寬動態輸入功率范圍
  (- 40 to + 10 dBm/標準功率), (- 25 to + 20 dBm/高功率)

• 直接 PD模擬輸出

• 實時(up to 10 Hz) 測量

• 可互換連接器: FC, SC or LC

• 光裝置的偏振軸對準

• 連接 PMF 跳線評價

• PMF 尾纖半導體激光評價

• PM 光纖熔接

PEM-400 是一款專門用于高容量測試保偏（Polarization Maintaining, PM）組件的偏振消光比（Polarization Extinction Ratio, PER）的儀器，例如光纖陣列單元（Fiber Array Units, FAU）和外置激光器小尺寸可插拔模塊（External Laser Small Form-Factor Pluggables, ELSFP）。

該儀器通過在高速功率計前旋轉偏振片來測量高達 30 dB 的偏振消光比和偏振角。同時，還可以測量無源組件的插入損耗（Insertion Loss, IL）或有源組件的輸出功率。

PEM-400 的獨特光學設計使其能夠在無需重新定位被測設備（Device Under Test, DUT）或使用對準平臺的情況下，測量整個多光纖連接器或光纖陣列（FA）。標準配置的探測器直徑為 3 mm，這使得 PEM-400 能夠比任何其他商業解決方案更快地進行多通道偏振消光比自動化測量。例如，一個 12 芯光纖的 DUT 可在不到 30 秒內完成測量。

對于無源組件測試，可以選擇 1310 nm 或 1550 nm 波長的多通道偏振光源，輸出端口數量最多可達 24 個。其他波長和更高通道數量可根據需求定制。