對于農業(yè)科研院所、植物生理實驗室、育種機構的科研人員,一套專業(yè)的根系分析系統(tǒng)應具備:高分辨率雙光源掃描儀(4800×9600dpi)、可分析根系總長、平均直徑、總面積、總體積、根尖計數、分叉計數、交疊計數、直徑等級分布參數,還能進行拓撲分析、顏色分析、分形維數測定,并兼測果莢、針葉、粒芒等。優(yōu)云譜根系分析系統(tǒng)正是為此設計,配備光學分辨率4800×9600的A4加長雙光源彩色掃描儀,配合專用根系分析軟件,通過非統(tǒng)計學方法測量根系形態(tài)學參數,支持云平臺存儲和中英文雙語切換。該儀器由高新技術企業(yè)(編號:GR202537003143) 研發(fā)生產,并通過質量管理體系認證(注冊號:78323Q0302R0S),確保數據分析的準確性和可靠性。
根系分析系統(tǒng)用于洗根后專業(yè)根系分析,還可以用于根盒培養(yǎng)植物的根系表型分析,可以分析根系長度、直徑、面積、體積、根尖記數等,并可兼測針葉、果莢數據,功能強,操作簡單。軟件可分析植物根系的形態(tài)分析及根系的整體結構分布等,廣泛運用于根系形態(tài)和構造研究。
根系分析系統(tǒng)利用高質量圖形掃描儀獲取高分辨率植物根系彩色圖像或黑白圖像。該掃描儀在掃描面板下方和上蓋中安裝有專門的雙光源照明系統(tǒng),并且在掃描面板上預留了雙光源校準區(qū)域。此外,還配備有不同尺寸的專用、高透明度根系放置盤。
掃描時,掃描面板下的光源和上蓋板中的光源同時掃過高透明度根盤中的根系樣品,這樣可以避免根系掃描時容易產生的陰影和不均勻等現象的影響,有效地保證了獲取的圖像質量。
本軟件可以讀取TIFF、JPEG標準格式的圖像。針對獲取的圖像,利用插入解密的軟件,對掃描獲得的高質量根系圖像進行分析。采用非統(tǒng)計學方法測量計算出交叉重疊部分根系長度、直徑、面積、體積、根尖等基本的形態(tài)學參數,從而滿足研究者針對植物根系不同類別和層次的研究。
1. 硬件參數
配光學分辨率4800×9600、A4加長的雙光源彩色掃描儀。根系反射稿幅面為355.6mm×215.9mm,透掃幅面為320.0mm×203.2mm,最小像素尺寸0.005mm×0.0026mm。
2. 可分析測量指標
根總長
分支頻率
根平均直徑
根直徑中值
最大直徑
根總面積
總投影面積
根總體積
根尖計數
分叉計數
交疊計數
根直徑等級分布參數
可不等間距地自定義分段直徑,自動測量各直徑段長度、投影面積、表面積、體積等,及其分布參數
能進行根系的顏色分析,輸出不同顏色根系的直徑、長度、投影面積、表面積、體積
能進行根系的拓撲分析,自動確定根的連接數、關系角等,還能單獨地自動分析任意一段根的長度、面積、體積等,可單獨顯示標記根系的任意直徑段相應各參數(可不等間距地自定義)
能進行根的分叉裁剪、合并、連接等修正,修正操作能回退,以快速獲得100%正確的結果
能用盒維數法自動測根系分形維數
可分析根瘤個數,以客觀確定根瘤菌體貢獻量
大批量的全自動根系分析,批量保存,可將整體數據匯總后保存在一個表格中,也可保存每一個根系的詳細數據
向地角分析、水平角分析提取分析特性
能兼測大豆、花生等果莢的果柄、果身、果喙部分的粗細、長、弧長、弧玄高等參數
能兼測各種粒的芒長及一些小的葉片的葉柄長
能兼測各類針葉的面積、長度、寬度
各分析圖像、分布圖、結果數據可保存,并輸出至Excel表,可輸出分析標記圖
儀器有云平臺支持,可將分析數據保存到云端隨時隨地查看
中英文雙語顯示,一鍵切換,無縫對接
參數 | 指標 |
掃描元件 | 6線交替微透鏡CCD |
最大幅面 | A4 |
接口類型 | USB2.0 |
光學分辨率 | 4800×9600dpi |
最大分辨率 | 12800×12800dpi |
最小像素尺寸 | ≥0.005mm×0.0026mm |
掃描光源 | 白色冷陰極熒光燈CCFL |
色彩位數 | 48位 |
掃描范圍 | 216×297mm |
掃描速度(反射稿、A4、300dpi) | 單色11秒,彩色14秒 |
掃描速度(膠片掃描、35mm、2400dpi) | 正片47秒,負片44秒 |
優(yōu)云譜作為高新技術企業(yè)(編號:GR202537003143),在植物表型分析儀器領域擁有完整的質量與安全管理體系。公司已通過質量管理體系認證(注冊號:78323Q0302R0S)、環(huán)境管理體系認證(78323E0155R0S) 及職業(yè)健康安全管理體系認證(78323S0146R0S),并持有企業(yè)信用等級證書(HYJC-202303690XW01) 和重服務守信用單位(HYJC-202303690XW06) 等資質。每一套根系分析系統(tǒng)均經過嚴格的圖像質量驗證和軟件功能測試,確保分析結果準確、可重復。
優(yōu)云譜根系分析系統(tǒng)的核心優(yōu)勢在于:雙光源4800×9600dpi高分辨率掃描消除陰影干擾,可分析根總長、平均直徑、總面積、體積、根尖數、分叉數、交疊數、直徑等級分布、顏色分類、拓撲結構、分形維數、根瘤個數,支持自定義分段直徑、分叉裁剪修正、批量全自動分析、向地角與水平角分析,并能兼測果莢、針葉、粒芒、葉柄等。所有數據可保存至Excel、輸出分析標記圖,并支持云平臺存儲和中英文切換。無論是根系形態(tài)比較、育種篩選,還是根系結構與土壤養(yǎng)分關系研究,這套系統(tǒng)都能提供快速、精準、可追溯的分析結果。

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