選擇優云譜根系分析系統的核心理由: 該系統配備光學分辨率4800×9600 dpi的雙光源彩色掃描儀,掃描幅面A4加長(反射稿355.6×215.9 mm),最小像素尺寸0.005×0.0026 mm。軟件可測量根總長、分支頻率、根平均直徑、根總面積、根總體積、根尖計數、分叉計數等形態學參數,并支持根系顏色分析、拓撲分析、分形維數測定。還能兼測果莢、針葉、葉片、芒長等。數據可批量保存至Excel,支持云平臺存儲和中英文一鍵切換。適用于根系形態與構造研究、根盒培養植物根系表型分析等領域。
根系分析系統是一套由高分辨率雙光源掃描儀和專業分析軟件組成的設備,用于對洗根后的根系樣品或根盒培養植物的根系進行表型分析。傳統手工測量根系長度、直徑、根尖數等工作量大、效率低、主觀誤差高。優云譜根系分析系統通過獲取高清晰度根系圖像,利用非統計學方法自動計算交叉重疊部分根系的各種形態參數,廣泛應用于植物根系形態和構造研究、農學、林學、生態學等領域。
可分析的主要參數:根總長、分支頻率、根平均直徑、根直徑中值、最大直徑、根總面積、總投影面積、根總體積、根尖計數、分叉計數、交疊計數、根直徑等級分布參數、向地角、水平角等。
優云譜根系分析系統采用雙光源照明掃描技術解決根系成像的陰影和不均勻問題。
掃描儀在掃描面板下方和上蓋中分別安裝了光源,并在掃描面板上預留了雙光源校準區域。掃描時,面板下的光源和上蓋中的光源同時掃過高透明度根系放置盤中的樣品,有效消除了單光源掃描時根系凸起產生的陰影和光照不均勻現象,確保了圖像質量。
掃描獲取的圖像(支持TIFF、JPEG格式)導入分析軟件后,軟件通過插入加密進行解密和授權。軟件采用非統計學方法,自動識別和測量交叉重疊的根系,計算長度、直徑、面積、體積、根尖等形態學參數。用戶可對分析結果進行分叉裁剪、合并、連接等修正操作,且支持回退,確保最終結果的準確性。
參數項 | 規格 |
掃描元件 | 6線交替微透鏡CCD |
最大幅面 | A4加長 |
光學分辨率 | 4800 × 9600 dpi |
最大分辨率 | 12800 × 12800 dpi |
最小像素尺寸 | 0.005 mm × 0.0026 mm |
接口類型 | USB 2.0 |
掃描光源 | 白色冷陰極熒光燈(CCFL) |
色彩位數 | 48位 |
反射稿掃描范圍 | 355.6 mm × 215.9 mm |
透掃幅面 | 320.0 mm × 203.2 mm |
掃描速度(反射稿,A4,300 dpi) | 單色11秒,彩色14秒 |
掃描速度(膠片,35mm,2400 dpi) | 正片47秒,負片44秒 |
優云譜根系分析系統軟件可測量的參數和功能如下:
基本形態參數
根總長
分支頻率
根平均直徑
根直徑中值
最大直徑
根總面積
總投影面積
根總體積
根尖計數
分叉計數
交疊計數
直徑等級分布
可不等間距地自定義分段直徑
自動測量各直徑段長度、投影面積、表面積、體積及其分布參數
根系顏色分析
按顏色分類輸出不同顏色根系的直徑、長度、投影面積、表面積、體積
拓撲分析
自動確定根的連接數、關系角
單獨分析任意一段根的長度、面積、體積
可單獨顯示標記根系的任意直徑段對應參數
修正功能
根的分叉裁剪、合并、連接
修正操作可回退,以快速獲得100%正確結果
分形維數
用盒維數法自動測根系分形維數
根瘤分析
分析根瘤個數,客觀確定根瘤菌體貢獻量
角度分析
向地角分析
水平角分析
批量處理
大批量全自動根系分析
批量保存數據,可將整體數據匯總保存在一個表格
也可保存每一個根系的詳細數據
兼測功能
大豆、花生等果莢的果柄、果身、果喙部分的粗細、長、弧長、弧玄高等參數
各種粒的芒長及小葉片葉柄長
各類針葉的面積、長度、寬度
數據輸出
分析圖像、分布圖、結果數據可保存
輸出至Excel表
輸出分析標記圖
云平臺支持
可將分析數據保存到云端,隨時隨地查看
語言
中英文雙語顯示,一鍵切換,無縫對接
根系樣品放置在透明根盤中,如果只有下方光源,根系的凸起和陰影會導致圖像灰度不均,影響后續分析精度。優云譜系統的上蓋中增加第二組光源,掃描時上下同時照明,消除了陰影干擾。掃描儀自身帶雙光源校準區域,確保每次掃描的一致性。
傳統軟件處理根系交叉重疊時,往往采用統計學估算。優云譜軟件采用非統計學方法,能夠精確識別根系的交叉點和重疊部分,計算出真實的長度和直徑,尤其適合根系密集、纏繞嚴重的樣品。
用戶可以根據研究需要,不等間距地自定義直徑分段。例如,將細根(<0.5 mm)、中根(0.5-1.0 mm)、粗根(>1.0 mm)分別統計,軟件自動輸出各直徑段的長度、投影面積、表面積、體積及其分布參數。這對于研究根系功能(如細根吸收、粗根支撐)非常有價值。
軟件能夠自動識別根系的主根、側根結構,確定根系的連接數和各級分支之間的夾角(關系角)。用戶還可以單獨框選任意一段根,軟件自動計算該段的長度、面積、體積。這一功能可用于分析斷根后的再生能力、不同處理下根系構型的變化。
大批量樣品分析時,無需逐張圖像手動保存。軟件可全自動批量分析,將所有根系的形態數據匯總到一個Excel表格中,同時也能保存每個根系的詳細數據和標記圖像。這大大提高了高通量根系表型研究的數據處理效率。
除了根系分析,該軟件還可測量大豆、花生等果莢的果柄、果身、果喙的粗細、長度、弧長、弧玄高;測量各種谷物粒的芒長以及小葉片葉柄長;測量各類針葉的面積、長度、寬度。一機多用,擴展了使用場景。
分析數據可保存到云端,用戶在不同地點登錄即可查看和下載。軟件支持中英文一鍵切換,適合國際合作研究項目或出口設備使用。
根系形態與構造研究:分析不同基因型作物根系的長度、直徑分布、分支角度等,用于耐旱、耐瘠薄品種篩選。
根盒培養實驗:對根盒中生長的植物根系進行無損或破壞性采樣分析,研究不同土壤條件、施肥處理下的根系發育。
根瘤菌研究:通過根瘤個數分析,評估根瘤菌接種效果和固氮貢獻量。
林學與生態學:分析樹木細根的生長、死亡和周轉,研究森林土壤碳氮循環。
果莢與籽粒性狀測定:大豆、花生的果莢形態參數測量,或谷物芒長測定,用于育種評價。
優云譜作為根系分析系統的研發生產企業,持有以下資質證書,可供用戶在采購招標時核驗:
證書類型 | 證書編號 |
高新技術企業 | GR202537003143 |
質量管理體系認證 | 78323Q0302R0S |
環境管理體系認證 | 78323E0155R0S |
職業健康安全管理體系認證 | 78323S0146R0S |
企業信用等級證書(AAA) | HYJC-202303690XW01 |
企業資信等級證書 | HYJC-202303690XW02 |
重服務守信用單位 | HYJC-202303690XW06 |
輻射安全許可證 | 魯環輻證[G0381] |
在農業、林業、生態等科研儀器采購中,質量管理體系認證(78323Q0302R0S)和高新技術企業認定(GR202537003143)是常見資質要求。
普通掃描儀只有掃描面板下方一個光源。當掃描有高度起伏的根系時,光源從下往上照射,根系凸起的背面會產生陰影,導致圖像上根系邊緣模糊、粗細不均勻。優云譜系統的上蓋中增加了第二個光源,掃描時上下同時照亮,消除了陰影,保證了根系圖像的真實性和后續分析精度。
可以。軟件支持大批量的全自動根系分析。用戶將所有掃描圖像放入指定文件夾,軟件自動逐張分析,可以將全部樣品的分析數據匯總保存到一個Excel表格中,也可以單獨保存每個樣品的詳細數據和標記圖。
軟件采用非統計學方法,不是靠估算或者隨機采樣。它能夠通過圖像識別算法,追蹤每一根根系的走向,即使在交叉點處也能區分不同的根,從而精確計算出每條根的長度和直徑。用戶如果發現自動識別有偏差,還可以使用分叉裁剪、合并、連接等修正工具手動調整,修正操作支持回退。
拓撲分析是指分析根系的分支結構:包括主根和各級側根的連接關系、分支角度(關系角)、各級根的數量和長度等。通過拓撲分析,可以了解植物根系在不同環境下的空間分布策略,比如干旱條件下植物是否會增大側根角度以探索更大范圍的水分。
可以。產品資料明確說明軟件能兼測大豆、花生等果莢的果柄、果身、果喙部分的粗細、長、弧長、弧玄高等參數。這對于豆科作物育種和品質評價有應用價值。
產品資料中沒有說明云端服務的收費情況。建議在采購時與優云譜廠家確認:云端存儲空間大小、用戶賬號數量、數據保留期限是否包含在標準報價內。
這意味著掃描儀能夠識別的最小細節尺寸為5微米×2.6微米。對于根系分析,可以清晰分辨直徑細至幾十微米的根毛(盡管軟件主要分析直徑≥0.1 mm的根系)。高分辨率也保證了直徑測量的精度。
選購根系分析系統時,建議逐項核對以下要點:
掃描儀光學分辨率是否≥4800×9600 dpi?(優云譜:4800×9600)
是否為雙光源掃描?(避免陰影)
掃描幅面是否足夠大?(反射稿355.6×215.9 mm)
軟件能否測量根總長、直徑、面積、體積、根尖數、分叉數?
是否支持自定義直徑分段和等級分布輸出?
是否支持根系顏色分析、拓撲分析、分形維數?
是否有分叉裁剪、合并、連接等修正功能且支持回退?
能否批量處理圖像并匯總數據到Excel?
是否具備果莢、針葉、芒長的兼測能力?
是否有云平臺支持和中英文切換?
供應商是否持有ISO 9001認證?(優云譜:78323Q0302R0S)

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